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BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復(fù)性的表現(xiàn)，并提供200毫米平臺選項，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設(shè)立了新的目標(biāo)，是微電子......
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掃描探針顯微鏡的工作原理是基于微觀或介觀范圍的各種物理特性，通過原子線度的極細(xì)探針在被研究物質(zhì)的表面上方掃描時檢測兩者之間的相互作用，以得到被研究物質(zhì)的表面特性，不同類型的SPM之間的主要區(qū)別在于它們的針尖特性及其相應(yīng)的針尖樣品相互作用方式的不同。工作原理來源于量子力學(xué)中的隧道貫穿原理。其核心是一個能在樣品表面上掃描、......
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用于科研和工業(yè)研發(fā)的近紅外光致發(fā)光模塊對于半導(dǎo)體和光電行業(yè)來說，光致發(fā)光PL是在研發(fā)過程中極為重要的一個實驗工具。在紅外光譜范圍，傅立葉紅外光譜儀比傳統(tǒng)色散型譜儀的靈敏度要高得多。與VERTEX傅立葉紅外譜儀聯(lián)用的PLII模塊提供了業(yè)內(nèi)最靈活和強大的PL分析方案?！た蓪崿F(xiàn)對塊狀樣品、量子阱和量子點樣品的PL分析，在40......
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FTIR傅里葉紅外在硅材料分析中的應(yīng)用用于超高靈敏度硅材料質(zhì)量控制分析的分析儀CryoSAS是一款低溫硅材料分析儀，可用于太陽能和電子硅行業(yè)的超高靈敏度質(zhì)量控制。它可以同時定量分析碳、氧以及淺層雜質(zhì)（如硼、磷、砷等）。根據(jù)ASTM/SEMI標(biāo)準(zhǔn)，CryoSAS操作簡便，無需液氦等制冷劑。相比于傳統(tǒng)的濕化學(xué)分析法，Cry......
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布魯克bruker臺階儀輪廓儀可容納高達(dá)350mmx350mm的樣品，為大型晶圓和面板制造帶來Dektak®傳奇的可重復(fù)性。DektakXTL具有空氣振動隔離設(shè)計和全封閉工作站設(shè)計，具有易用的聯(lián)鎖門，是當(dāng)今苛刻的生產(chǎn)車間環(huán)境的的理想之選。其雙攝像頭架構(gòu)可增強空間感知能力，其高自動化水平可大限度地提高測試通量。增......
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