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bruker Dektak Pro臺階儀介紹
BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復性的表現，并提供200毫米平臺選項，在科研以及工業(yè)領域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設立了新的目標，是微電子......
先進的陶瓷X光管技術、高精度的zl測角儀、超高強度的探測器，再加上屢獲殊榮的軟件意味著的粉末衍射解決方案。當所有這一切都集中在一臺桌面型衍射儀身上時，這就是D2PHASER!這種革命性的飛躍是如何發(fā)生？在小型化設計的同時，D2PHASER又是如何實現她的高性能？首先，D2PHASER得益于特別設計的最新的θ/θ高精度測......
等離子去膠機是一種常用于半導體、電子、光學和精密機械制造等行業(yè)的設備，主要用于去除工件表面的有機物。為了確保其正常運行和長期使用，需要進行適當的維護保養(yǎng)。等離子去膠機的維護保養(yǎng)方法：1.定期清潔：定期對其進行清潔是非常重要的。在操作前應先關閉電源并拆卸外殼，用軟布或刷子清除內部雜質，并檢查高壓電極是否磨損或受損。按照設......
一、控制：WindowsPC人機交互操軟件，多種語言（含中文），用戶密碼登陸管理權限，工藝二維折線圖實時顯示，一鍵回復原廠設置，數據備份與還原功能，數據自動存儲和導入導出功能，可儲存100套工藝參數二、原料：沉積ParyleneN、C、F-VT4型三、沉積厚度：0.05~30um四、沉積室直徑300mm,深度300mm......
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來研究包括導體、半導體和絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它的橫向分辨率可達0.15m，而縱向分辨率可達0.05m，AFM最大的特點是可以測量表面原子之間的力，AFM可測量的最小力的量級為10-14-10-16N。AFM還可以測量表面的彈......
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