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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復(fù)性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng),在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設(shè)立了新的目標(biāo),是微電子......
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等離子設(shè)備在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,如電子、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等。為了確保等離子設(shè)備的正常運(yùn)行和延長其使用壽命,以下是一些建議的維護(hù)和保養(yǎng)方法:1、定期檢查電源線和插頭:確保電源線沒有磨損、斷裂或老化現(xiàn)象。檢查插頭是否松動(dòng)或損壞,如有需要,及時(shí)更換。2、清潔設(shè)備表面:使用干凈的軟布輕輕擦拭設(shè)備表面,以去除灰塵和污垢。避......
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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定,另一端的微小針尖接近樣品,這時(shí)它將與其相互作用,作用力將使得......
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Bruker公司的AnasysnanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng),是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100......
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生物型原子力顯微鏡是一種專為生物學(xué)研究設(shè)計(jì)的原子力顯微鏡,具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn),可以用于研究生物大分子的結(jié)構(gòu)和動(dòng)態(tài)行為。以下是生物型原子力顯微鏡適用于一些應(yīng)用場景:1、細(xì)胞形態(tài)學(xué)研究:它可以對細(xì)胞表面進(jìn)行高分辨率成像,觀察細(xì)胞的形態(tài)、大小、表面粗糙度等參數(shù),有助于了解細(xì)胞生長和增殖的過程。2、膜生物學(xué)研究:膜是......